应用实例

仪器及探头

• √  电容成像技术为非接触、单面测量技术，可检测非导体表面/内部缺陷，并透过较厚绝缘层检测金属表面缺陷；
• √  采用体积平均测量方式克服材料的非均匀性、实现全厚度测量、成本低；
• √  适合作为筛查手段简单快速实现缺陷检出。
• √  从结构外表面非接触单面接近进行扫查；
• √  采用体积平均测量方式克服材料的非均匀性；
• √  可用于多类缺陷检测（破裂、渗水、老化）；
• √  通过探头设计实现全厚度测量。

玻璃纤维层缺陷检测

玻纤-金属复合结构缺陷检测

碳纤维-金属复合结构检测